---
id: 5900f4a01000cf542c50ffb2
challengeType: 5
title: 'Problem 307: Chip Defects'
videoUrl: ''
localeTitle: 'Задача 307: Дефекты чипов'
---

## Description
<section id="description"> k дефектов распределены случайным образом среди n интегральных микросхем, производимых заводом (любое количество дефектов может быть найдено на чипе, и каждый дефект не зависит от других дефектов). <p> Пусть p (k, n) представляет вероятность того, что имеется чип с не менее чем тремя дефектами. Например, p (3,7) ≈ 0,0204081633. </p><p> Найдите p (20 000, 1 000 000) и дайте свой ответ округленным до десяти десятичных знаков в форме 0.abcdefghij </p></section>

## Instructions
<section id="instructions">
</section>

## Tests
<section id='tests'>

```yml
tests:
  - text: <code>euler307()</code> должен вернуть 0.7311720251.
    testString: 'assert.strictEqual(euler307(), 0.7311720251, "<code>euler307()</code> should return 0.7311720251.");'

```

</section>

## Challenge Seed
<section id='challengeSeed'>

<div id='js-seed'>

```js
function euler307() {
  // Good luck!
  return true;
}

euler307();

```

</div>



</section>

## Solution
<section id='solution'>

```js
// solution required
```
</section>