freeCodeCamp/curriculum/challenges/chinese/10-coding-interview-prep/project-euler/problem-307-chip-defects.md

1020 B
Raw Blame History

id challengeType videoUrl localeTitle
5900f4a01000cf542c50ffb2 5 问题307芯片缺陷

Description

k个缺陷随机分布在一家工厂生产的n个集成电路芯片中在芯片上可以发现任何数量的缺陷每个缺陷与其他缺陷无关

令pkn表示存在至少3个缺陷的芯片的概率。 例如p3.7≈0.0204081633。

找到p20,0001 000 000并以0.abcdefghij的形式将答案四舍五入到小数点后10位。

Instructions

Tests

tests:
  - text: <code>euler307()</code>应该返回0.7311720251。
    testString: assert.strictEqual(euler307(), 0.7311720251);

Challenge Seed

function euler307() {
  // Good luck!
  return true;
}

euler307();

Solution

// solution required

/section>