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Raw Blame History

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5900f4a01000cf542c50ffb2	5	Problem 307: Chip Defects		Problema 307: Defectos de la viruta

Description

Los defectos k se distribuyen aleatoriamente entre n chips de circuito integrado producidos por una fábrica (cualquier número de defectos puede encontrarse en un chip y cada defecto es independiente de los otros defectos).

Sea p (k, n) la probabilidad de que haya un chip con al menos 3 defectos. Por ejemplo, p (3,7) ≈ 0.0204081633.

Encuentre p (20 000, 1 000 000) y dé su respuesta redondeada a 10 lugares decimales en la forma 0.abcdefghij

Instructions

Tests

tests:
  - text: <code>euler307()</code> debe devolver 0.7311720251.
    testString: 'assert.strictEqual(euler307(), 0.7311720251, "<code>euler307()</code> should return 0.7311720251.");'

Challenge Seed

function euler307() {
  // Good luck!
  return true;
}

euler307();

Solution

// solution required

1.2 KiB Raw Blame History