freeCodeCamp

1.5 KiB

Raw Blame History

id	challengeType	title	videoUrl	localeTitle
5900f4a01000cf542c50ffb2	5	Problem 307: Chip Defects		Задача 307: Дефекты чипов

Description

k дефектов распределены случайным образом среди n интегральных микросхем, производимых заводом (любое количество дефектов может быть найдено на чипе, и каждый дефект не зависит от других дефектов).

Пусть p (k, n) представляет вероятность того, что имеется чип с не менее чем тремя дефектами. Например, p (3,7) ≈ 0,0204081633.

Найдите p (20 000, 1 000 000) и дайте свой ответ округленным до десяти десятичных знаков в форме 0.abcdefghij

Instructions

Tests

tests:
  - text: <code>euler307()</code> должен вернуть 0.7311720251.
    testString: 'assert.strictEqual(euler307(), 0.7311720251, "<code>euler307()</code> should return 0.7311720251.");'

Challenge Seed

function euler307() {
  // Good luck!
  return true;
}

euler307();

Solution

// solution required

1.5 KiB Raw Blame History Unescape Escape